Einführung. -Statistik. - Ertragsstatistiken. - Flächenabhängigkeit des Ertrags. - Die Statistik des eingebetteten Objekts schlägt fehl. - Gemeinsamkeiten scheitern. - Räumliche Muster. - Testen Sie die Abdeckung und testen Sie den Fallout. - Logische Diagnose. - Lattenbasierte Diagnose. - Anforderungen an die Datenerfassung. - Anhang A. Verteilung von IC-Fehlern. - Anhang B. Allgemeines Ertragsmodell. - Anhang C. Vereinfachtes Zentrums-Satelliten-Modell. - Anhang D. Quadratische Analyse. - Anhang E. Wahrscheinlichkeiten für Zellversagen. - Anhang F. Gruppe für Charakterisierung. - Anhang G. Ausfallwahrscheinlichkeiten von Komponenten. - Anhang H. Ertrag und Deckung. - Anhang I. Schätzen der Wahrscheinlichkeit des ersten Fehlschlags aus dem Fallout. - Anhang J. Identität von M und S. - Referenzen. -Index. . Sprache: Englisch