Data Model Patterns: A Metadata Map (The Morgan Kaufmann Series in Data Management Systems)
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Beschreibung
Data Model Patterns: A Metadata Map (The Morgan Kaufmann Series in Data Management Systems)
- Marke: Unbranded
- Kategorie: Computer und Internet
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Größe: 191 mm X 235 mm
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Format: HardBack
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Autor: Hay, David C.
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Verlag / Label: Morgan Kaufmann
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Sprache: English
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Länge: Pages: 432
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Erscheinungsdatum: 2006
- Fruugo-ID: 336129139-739739504
- ISBN: 9780120887989
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