Yield Simulation for Integrated Circuits

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Beschreibung

Yield Simulation for Integrated Circuits

1. Introduction. - 2. Background. - 3. Defect Models. - 4. Defect Statistics. - 5. Fault Analysis. - 6. VLASIC Implementation. - 7. Redundancy Analysis System. - 8. Fabrication Data. - 9. Conclusions and Current Research. - References. Language: English
  • Marke: Unbranded
  • Kategorie: Computer und Internet
  • Künstler: D.M. Walker
  • Format: Paperback
  • Verlag / Label: Springer
  • Sprache: English
  • Erscheinungsdatum: 2010/12/10
  • Seitenzahl: 209
  • Fruugo-ID: 337854104-741512756
  • ISBN: 9781441952011

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