Nonlinear Transistor Model Parameter Extraction Techniques

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Beschreibung

Nonlinear Transistor Model Parameter Extraction Techniques

Erzielen Sie eine präzise und zuverlässige Parameterextraktion mithilfe einer breiten Palette an Techniken und Methoden. Experten aus Industrie und Wissenschaft präsentieren praxisnahe Beispiele und Einblicke in wichtige Themen wie parasitäre Effekte, intrinsische Extraktionsstatistik, Extraktionsunsicherheit, nichtlineare und DC-Parameter, Selbsterwärmung und -fallen, Rauschen und Gehäuseeffekte.
  • Marke: Unbranded
  • Kategorie: Wissenschaft, Medizin und Natur
  • Format: Gebundene Ausgabe
  • Autor: Matthias Rudolph
  • Verlag / Label: Cambridge University Press
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsdatum: 03 / 10 / 2018
  • Seitenzahl: 366
  • Fruugo-ID: 445357375-935259450
  • ISBN: 9780521762106

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